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安捷伦i1000在线测仪/模拟/上电/数字测试

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产品名称: 安捷伦i1000在线测仪/模拟/上电/数字测试
产品型号: 安捷伦i1000
产品展商: agilent
产品文档: 无相关文档


简单介绍

通过保留较早U9401/2A 款型简单而直观的特点,新的M e d a l i s t i1000D 软件库中增加了许多新的功能,使数字测试的开发和调试就像写ABC 那样容易。遵循典型的制造缺陷分析仪的开发模式,用户现在只需短短几天时间,就能完成夹具,程序和上线运行。在需要进行数字测试时,只需用新的开发者GUI 指定测试库和分配电源,让i1000D 软件完成其余的任务。只需使用全套菜单和按钮,用户就能用简洁的GUI在调试过程中迅速改变各项测试,从而完成自动调试功能。这样,无经验的用户即可很快开始使用系统。安捷伦i1000在线测仪/模拟/上电/数字测试

安捷伦i1000在线测仪/模拟/上电/数字测试

的详细介绍

i1000在线测试介绍

一、i1000在线测试系统

1.完整的在线测试系统:

     (1)模拟测试

     (2)上电测试

     (3)数字测试

     (4)与MDA相似的用户接口与夹具设计,方便使用,容易学习.

2.全新抗干扰设计,使数字测试方便快速.

3.使用安捷伦最新的在线测试技术方案. 

二、安捷伦i1000系统的优势

优势1 : a,治具结构简单     b,系统维护容易

优势2 : 完整的测试涵盖率

        VTEP v2.0       (无矢量测试)

        Digital Test    (数字测试)

        OBP             (在线烧录)

        Bscan           (边界扫描)

        Functional Test (功能测试)

        CET             (拓展测试)

优势3: 简单易懂的用户接口

PS:安捷伦i1000在线测试系统 提供完整的在线测试功能,拥有与一般MDA相似 的接口,

可与常用的MDA夹具相容, 使用方便,学习快速.同时又可使用安捷伦在线测试的各项最新技术,是性价比极高的产线检测设备。

三、 治具结构简单

1. i1000的压床式治具与一般MDA所使用的压床式治具兼容.

(1)治具的投资可以不用浪费

(2)治具可以从很多家治具厂获得

(3)人员的训练不用重来

2.i1000使用新的扁平电缆技术,在节省治具成本的同时可以提升数字测试的讯号质量,达到与真空治具相当的结果.

3.i1000的数字测试采用每信道可调的设计相较于传统的  

  机台制作治具与程序的时间大约可以节省半天至一天.

、系统维护方便容易

 

    单相电源即可启动        系统可由前方开启        无须真空磊浦

 

   拉拖式的系统架构                            方便组装维修

 

五、完整的测试涵盖率

VTEP v2.0 (无矢量测试) Digital Test    (数字测试) OBP (在线烧录)

Bscan     (边界扫描)   Functional Test (功能测试) CET (覆盖扩展测试)

·详述每通道可调(Per-Pin Programmable)的好处

(1)真正的1:1结构设计能够让i1000连续不断的监控驱动逻辑。

(2)每一组驱动逻辑电位都有一个接收电位。

1.进行数字测试的时候,需要知道芯片那些管脚是3.3V, 哪些5V,或者2.5V,1.1V等等。

2.每信道可调的数字测试系统,每个通道都可以被设定为任何逻辑准位,所以只要把电压与接地点找出来,其余点都可以任意改变,如此对于做治具与程序的时间大约可以节省半天至一天。

3.每信道可调的数字测试系统还可以把任意的信道直接驱动为高电位(drive high)或者低电位(drive low),以便于调试。

每通道可调(Per-Pin Programmable)每通道可调的好处–A节省系统成本,以其它厂商提供的数字测试卡来看 每片卡片支持64个通道 但只可设定两种逻辑位准。

 

问题:

如果有10个管脚须同时进行数字测试, 但有 4组不同的逻辑位准设定 – 3.3V, 1.5V, 1.05V, 2.0V.如果每一张数字测试卡有64组通道请问总共需要几张数字测试卡 ?

如果不是每通道可调 : 将需要两张数字卡总共需用128个数字通道来满足10个通道的测试

每通道可调的好处:i1000是唯一具有这项优势的压床icti1000数字测试卡、提供 64组独立可以调整的通道、64组准位与频率都可以独立调整。

问题:

如果有10个管脚须同时进行数字测试, 但有4组不同的逻辑讯号设定 – 3.3V, 1.5V, 1.05V, 2.0V.如果每一张数字测试卡有64组通道,请问总共需要几张数字测试卡 ?

答案:只需要一张i1000数字测试卡–减少花费 –治具制作较为简单

六、VTEP测试应用

Agilent VTEP专利技术的扩展版本可以用于:

(1)超小型封装

(2)倒装芯片

(3)带有最小或不带引线框的器件

(4)以及装有热散器的器件

我们知道随着PCBA上的器件封装变得越来越小、越来越密集,电子制造商在检测这些器件的信号针脚开路时,面临的挑战也与日俱增。另外,为使传统程序库适应生产测试,制造商还必须面对程序接入问题和产品上市所需时间(time-to-market)的压力。鉴于此,越来越多的制造商更加倾向于采用无矢量测试解决方案,以最有效的方式保持最大的覆盖范围。

七、在线烧录OBP

1.提供在线烧录OBP(支持SPI格式及I2c格式)  透过i1000的图形用户界面

可以轻易的进行在线刻录程序设定。

Connect A0 –A2 SDA SCL Function Address Inputs Serial Data Serial Clock Input I2C 介面使用 SDATA 及 SCLK 两个输入脚位,称为 I2C Bus,所以支援 I2C 介面的 IC 必须提供这 2 个输入脚位。SDATA 为串列资料的输入脚位、SCLK 为资料输入 的同步信号脚位。

 

八、在线烧录概念

I2C IC ( EEPROM AT24C02) 由於是串列传送资料,每一位元必须与 SCLK同步,以保证资料能正确地被接收。藉由 SDATA 与 SCLK 信号间的时序差异, SDATA 线上的信号可分为命令 (Command) 及资料 (Data) 两类。 I2C 通讯协定基本上是由发送端传送 START COMMAND 启动,随后为一连串的DATA,而在传送每一笔DATA (BYTEWORD)后,接收端须回应一ACK信号以作确定。 最后发送端传送STOP COMMAND作为结束 Start and Stop Definition SDA SCL START,STOP COMMANDDATA的区别 Output Acknowledge SCL 1 8 9 DATA IN DATA OUT START 、接收端回应ACK ACKNOWLEDGE MWIRE Serial EEPROM基本概念:MWIRE Serial EEPROM主要使用 Chip Select(CS)Serial Clock(CLK)Data In(DI)、 Data Out(DO) 四个脚位 ,EEPROM是以 93为编号开头之IC,例如93C46、 93C66

九、边界扫描(Boundary-Scan) 

2.完整的边界扫描测试(Bscan Test)与其他功能测试

  测试 BSCAN 测试的条件 :

(1)待测 IC 必须要支援 BSCAN 的测试 

(2)支援 BSCAN 测试的 IC 都会有一个由 IC 制造厂商所提供的对应档案 Boundary-Scan Description Language (BSDL)(IC的封装语言描述)。

基本在线边界扫描测试(In-circuit Bscan Connect Tests)

进阶边界扫描测试互连测试(Advance Interconnect Bscan Test)

 

十、CET(Cover-Extend Technology)覆盖扩展测试技术

结合VTEP与边界扫描的新技术: CET

 

十一、覆盖扩展技术(CET)是如何进行工作?

1.VTEP 传感器位于被测元件(例如连接器)上,它能够根据电容特性选取激励信号。 

2.传统的 VTEP 方法需要有测点(例如通过探针)来提供激励信号。而覆盖扩展技术则是依靠边界扫描器件来提供激励信号。 

3.边界扫描器件不需要每个引脚都放探针。 

4.根据 IEEE 1149.x 标准(只使用测试接入端口),用户可以向连接器提供必要的激励信号。 

5.边界扫描器件和 VTEP 传感器之间的路径缺陷(例如开路)将影响传送到传感器的激励信号。 

6.ICT 系统对结果进行捕获和诊断,因此会检测到缺陷。 

十二、覆盖扩展优点(CET)

1.广泛的测试范围,不需要测点 

2.可节省夹具和 ICT 测试资源,降低测试成本 

3.通过降低应力敏感型封装(例如 BGA)上的应力,提高电路板质量 

 

 

十三、Library与3070共享VCL/PCF数字测试文件

Vector Control Language  向量控制语言(VCL).

Pattern Capture Format   模式捕获格式(PCF).

是两种3070用来描述digital library的语言.一般的数字测试需要使用预先设定好的数字测试文件(Digital LIB)以安捷伦3070所使用的PCF, VCL格式 编写成的数字测试文件是目前世界上 数量最多的数字测试文件(累积超过20年)i1000可以直接使用这些文件

 

十四、i1000 操作界面_可选英文或中文

 

十五、i1000软件: 程序发展及编辑界面

 

十六、好用的数字调适接口

 

十七、浅谈产线常用的设备-MDA

MDA :常用的产线测试设备。主要用来发现在生产流程中所产生的错误,比如在不同组件点 因为焊锡不良 产生无法预期的”开路”  或”短路”,或者是测试出 错误的被动组件 比如 电阻 电容 电杆等组件,如果加上HP/Agilent专利的Test Jet技术MDA还可以用来测试IC,或连接器上的pin脚开路.但是MDA无法侦测出下面的几种状况即使板子可以通过MDA的检测 不代表这块板子可以顺利上电启动运作 这主要是因为MDA不进行上电测试.对于BGA芯片底下的数百个 甚至上千个的锡球 在经过回焊炉后 是否与PC板焊接良好?目前MDA使用的Test Jet技术无法有效的测试BGA锡球的连接性对于覆晶BGA (Flip chip  BGA) Test Jet更是束手无策.

对于高密度的连接器Test Jet的测试效果也不佳.

十八、测试功能应用

1.模拟测试(MDA)

开短路、电阻、电容、二极体、三极体、光耦元件、电容三端测试、保护二极体测试。

2.上电高压量测

量测待测物各个状态下的220AC工作输出。

3.功能模拟遥控发码测试

模拟遥控发码IR给待测物、从而控制待测试物的工作状态。

4.功能模拟温度测试

模拟温度给待测试、从而达到待测物的工作条件。

5.EEPROM 记忆测试

测试待测物在任何时刻停止当前状态、恢复后仍然是此工作状态。

6.显示器功能测试

测试待测物在各个显示模式下的工作状态及工作电压。

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