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关于ICT测试出的不良PCBA维修培训

 

1.元器件不良

测试值偏差超差比较小,则可能原因:

1)器件本身的偏差就这么大;

2)测试针的接触电阻较大;

3)错件、焊接不良、反装;

 

2.开路不良(常由探针接触不良所致)

开路不良只针对某一短路群而言,例如:有短路群:【1,4,10,12】,ict测试出1,10开路不良,表示PCB上测试点1与测试点10之间电阻大于55Ω(或55-85Ω),可以用万用表在PCB上的测试点上进行验证;可能原因如下:

1)测试针坏掉,或针形与待测板上的测试点不适合:

2)测试点上有松香等绝缘物品;

3)某一元器件漏装、焊接不良、错件等;

4)继电器、开关或变阻器的位置有变化;

5PCB上铜箔断裂,或Via Hloe与铜箔之间open

 

3.短路不良(短路不良要第一优先处理,而开路不良常因探针接触不良所致)

      短路不良指两个(不在同一短路群内,即本来应该大于25Ω(或25-55Ω)的电阻小于5Ω(或5-15Ω),可以用万用表在PCB上的测试点上进行验证;可能原因如下:

1)连焊(应该在两个NET相关的焊接点上寻找);

2)错件,多装器件;

3)继电器、开关或变阻器的位置有变化;

4)测试针接触到别的器件;

5)PCB上铜箔之间短路;

 

4.测试值偏差超差较大,则可能原因如下:

1)器件坏掉;

2)IC此脚的内部不良(可能性极少)。

 

5.其他

RL测试值偏差为99.99%DQ测试值为2V左右及电容测试值为0时,并且几个器件均有同一测试针时,可能原因:该测试针坏掉,或测试点接触不良,或PCB上铜箔断裂,或Via Hole与铜箔之间open

·短路与IC错件、反装会引起大片不良,应优先考虑。

·以上不良用万用表检查是,请将万用表的针放在测点处,而不是放在器件的两端。


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