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TEST-JET测试优缺点
日期:2024-04-26 07:33
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摘要:
一,T/J测试优点
1. 准确度高:IC PIN有OPEN时,测量值降为20fF以下。
2. 稳定度(STABILITY)高:同PCB同STEP测试误差10%以内。
3. 速度快:3ms/per lead。
4. 软体准备容易:有CAD读取资料,电脑自动学习(LEARNING)
5. 测试面广:除有Frame之IC外,还可测试连接器,插座和胆电容极性。
6. 硬体组装简单、便宜:每颗IC多接一只Probe。
7. 治具弹性高:机重更换、停产时Probe可更换于不同治具上。
二,T/J测试缺点...
一,T/J测试优点
1. 准确度高:IC PIN有OPEN时,测量值降为20fF以下。
2. 稳定度(STABILITY)高:同PCB同STEP测试误差10%以内。
3. 速度快:3ms/per lead。
4. 软体准备容易:有CAD读取资料,电脑自动学习(LEARNING)
5. 测试面广:除有Frame之IC外,还可测试连接器,插座和胆电容极性。
6. 硬体组装简单、便宜:每颗IC多接一只Probe。
7. 治具弹性高:机重更换、停产时Probe可更换于不同治具上。
二,T/J测试缺点
1. 待测IC尺寸>SO14.
2. Vcc&Ground Pin无法测试。
3. Tire Pin超过四pin并联时,无法测出Open Fail。
4. 若IC Pin与电容直接或经过500欧姆电阻与电容相接,无法测试。
5. 若IC pin与Pad存在Open,但其间阻抗小于100K欧姆,无法测出。
6. 对于无Frame结构之IC(BGA中心,Flip Chip,CSP等),此方法不适用。