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TEST-JET测试优缺点

 

一,T/J测试优点

1.      准确度高:IC PINOPEN时,测量值降为20fF以下。

2.      稳定度(STABILITY)高:同PCBSTEP测试误差10%以内。

3.      速度快:3ms/per lead

4.      软体准备容易:有CAD读取资料,电脑自动学习(LEARNING

5.      测试面广:除有FrameIC外,还可测试连接器,插座和胆电容极性。

6.      硬体组装简单、便宜:每颗IC多接一只Probe

7.      治具弹性高:机重更换、停产时Probe可更换于不同治具上。

 

二,T/J测试缺点

1.      待测IC尺寸>SO14.

2.      Vcc&Ground Pin无法测试。

3.      Tire Pin超过四pin并联时,无法测出Open Fail

4.      IC Pin与电容直接或经过500欧姆电阻与电容相接,无法测试。

5.      IC pinPad存在Open,但其间阻抗小于100K欧姆,无法测出。

6.      对于无Frame结构之ICBGA中心,Flip ChipCSP等),此方法不适用。

  

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