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ICT测试出来的不良维修

 1.ict不良的类型主要有以下几种(以HIBEX MERCURYICT为例):

·SHORT FAIL 短路不良,本应该短路的,实质上开路

·OPEN FAIL 开路不良,本应该开路的,实质上短路

·HIGA FAIL 测试值远远的高于设定值的误差范围

·LOW FAIL 测试值远远的低于设定值的误差范围

·FAIL MODE 被测试的元器件与测试程序里预先设置的类型不相同

·NC FAIL 被测试的元器件没有放进测试程序中

·POL FAIL 被测试的元器件的极性(电容除外)插反

·OPEN FAIL NODE 在两个或两个以上的测试针短路,本来应该是开路的

·SHORT FAIL NODE 在两个或两个以上的测试PIN开路,本来应该是短路的

 

2.总体来说,ICT不良的维修,基本上都是从以下几点进行:

·部品本身有误配或不良的情况发生

·ICT PINBOARD本身针点上有异物

·ICT PINBOARD 本身有针不良

·PCB上的测试点无焊锡

·PCB上的测试点有异物

·PCB上的测试仪点光泽度看上去比较差,表面测试点上松香过多


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